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2010年1月20日～22日　第39回インターネプコン・ジャパン

【展示会出展のお知らせ】
2010年1月20日～22日　第39回インターネプコン・ジャパン東京ビックサイト

▽展示会の様子（画像をクリックすると、拡大画像が表示されます）

【展示会出展のお知らせ】
2009年11月18日～20日　非破壊評価総合展2009
東京ビックサイト東6ホール

▽展示会の様子（画像をクリックすると、拡大画像が表示されます）

【展示会出展のお知らせ】
2009年11月5日　第5回ビジネスフェア2009
ポートメッセ名古屋　第三展示館・イベント館(名古屋市国際展示場)

▽展示会の様子（画像をクリックすると、拡大画像が表示されます）

【展示会出展のお知らせ】
2009年10月23日～25日　しずおか新産業技術フェア　ツインメッセ静岡（北館）

▽展示会の様子（画像をクリックすると、拡大画像が表示されます）

製品の加工中に真円度を測定しOK/NGの判定を行う装置【真円度検査装置】の情報を公開致しました。

【展示会出展のお知らせ】
2009年4月8日～10日　総合検査機器展　東京ビッグサイト
ブースJ-43　東京ビッグサイト　東４ホール　※同時開催展あり

▽展示会の様子（画像をクリックすると、拡大画像が表示されます）

【展示会出展のお知らせ】
2009年2月5日～6日　第19回はままつメッセ2009　グランドホテル浜松2F

▽展示会の様子（画像をクリックすると、拡大画像が表示されます）

【展示会出展のお知らせ】
2008年11月5日　テクノサロン静岡2008　静岡グランドホテル中島屋4F

▽展示会の様子（画像をクリックすると、拡大画像が表示されます）

線材の表面に発生する線状疵を検出し、OK/NGを判定する装置【疵検出装置 WireInspectorII 】の情報を公開致しました。

大石測器株式会社では、物の疵、形状を検出する装置光技術を応用した検査装置 | 開発製作販売を行っております。