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疵検出装置 WireInspectorII : 大石測器株式会社
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μDefectInspector 分離型■

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新製品

μDefectInspector 分離型


投光−受光センサを分離しました。検出位置や領域を自由に設定でき、省スペースとなります。

ガラス板のような形状品の欠陥検査を実現しました。


μDefectInspector 分離型

投光−受光部をワークに合わせてカスタマイズできます。




検査対象


表面で光を反射する材質であれば検査できます。
板形状、異形形状などに対応します。
球形状、丸棒・パイプ・チューブ形状にも使用できます。(複数個構成で対応)


検査方法


複数の受光素子内に反射光を投影し、その変化で欠陥を検出しています。
(弊社特許取得技術)


特長


投光、受光センサを分離式にしたので、様々な形状品の表面検査に対応できます。
高速サンプリングで測定しますので、微小欠陥の検出ができます。
(深さ数μmの欠陥を検出しています 実験値)
受光センサが複数素子構成となっているので、位置ずれに対応できます。




使用例

ガラス板の表面キズ、内部気泡を同時一括検査します。
使用例使用例





モニタ画面

モニタ画面

選択した受光素子の測定データがグラフ表示されます。

検任意の閾値にて、OK/NGの判定を行います。

NG判定時は外部信号が出力されます。

NG判定データは自動保存されます。



応用先

異型材

カテーテル

透明チューブ

フィッシュアイ
フィッシュアイ

OK
OK



μDefectInspector 分離型




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