表面欠陥検査装置 NewWireInspector

検査対象寸法　　φ０．１　〜　φ１３　（検出部交換にて対応）

投光×1　　受光×2　の構成（標準）　の他に
投光×2　　受光×7　の2倍の構成ができます。

検出速度が単純に 2倍 となった。
現行機種 10m/min　→　20m/min（計算値）に向上

データサンプリングを、3倍の周期にて実施。

より細かな欠陥を検出する。

モニタ画面（検出ヘッド 4ch仕様）

品種毎にＮＧデータが自動保存される。
保存先も指定でき、測定結果の保存、解析、評価が容易になった。

パラメータ設定画面

受光素子のゲイン、オフセットの遠隔操作ができ、対象材に対する最適条件を容易に設定できる。